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直流溅射ITO薄膜光电性能研究
引用本文:赵亚丽,马富花,吕德涛,李克训. 直流溅射ITO薄膜光电性能研究[J]. 应用化工, 2013, 0(4): 634-636
作者姓名:赵亚丽  马富花  吕德涛  李克训
作者单位:中国电子科技集团第三十三研究所
基金项目:山西省青年科技研究基金(2012021020-4)
摘    要:采用直流溅射法制备了高性能的ITO薄膜。结果表明,氧气分压比和衬底温度对薄膜的方阻、可见光透射率具有重要的影响。其最佳值分别为0.5/50和350℃;同时,随着膜厚的增加,薄膜的晶粒增大,导电率也相应降低。

关 键 词:ITO薄膜  磁控溅射  氧分压  衬底温度  电阻率

Properties of ITO films prepared by DC magnetron sputtering
ZHAO Ya-li,MA Fu-hua,Lü De-tao,LI Ke-xun. Properties of ITO films prepared by DC magnetron sputtering[J]. Applied chemical industry, 2013, 0(4): 634-636
Authors:ZHAO Ya-li  MA Fu-hua  Lü De-tao  LI Ke-xun
Affiliation:(NO.33 Research Institute of China Electronics Technology Group Corporation,Taiyuan 030006,China)
Abstract:
Keywords:
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