| 铜磷钨玻璃的热 电特性和铜离子的迁移研究 |
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| 引用本文： | 王秀芳 朱元泰. 铜磷钨玻璃的热 电特性和铜离子的迁移研究[J]. 硅酸盐通报, 1992, 11(5): 31-36 |
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| 作者姓名： | 王秀芳 朱元泰 |
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| 作者单位： | 华东化工学院物理系，华东化工学院无机材料系 |
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| 摘 要： | 确定了30CuI-70(Cu_2O-P_2O_5-WO_3)系统的玻璃形成区,测量了玻璃转变湿度T_(?)、红外和电导率随温度和成份的变化.电导率随CuI和WO_3含量的增加而增加,在室温下对于30CuI-30Cu_2O-20P_2O_5-20WO_3样品的最高电导率值是2.1×10~(-3)Scm~(-1).在此四元系中,电导率的增大用IR、T_(?)和玻璃结构等方面进行了讨论.本文也对玻璃的交流电导率分析和介电响应等进行了描述,用AES方法观察了铜离子的迁移现象.俄歇峰的相对强度给出了铜离子的沉积量.
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| 关 键 词： | 铜 磷 钨 玻璃 性能 离子 |
Thermal and Electric Characteristics of Ionic Migration in Copper-Phosphorus-Tungsten Glass |
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| Wang xiufang Li Guangyuan Zhu yuantai xu Lei Jiang Jianhua Liu Xu Li Xiaoqing. Thermal and Electric Characteristics of Ionic Migration in Copper-Phosphorus-Tungsten Glass[J]. Bulletin of the Chinese Ceramic Society, 1992, 11(5): 31-36 |
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| Authors: | Wang xiufang Li Guangyuan Zhu yuantai xu Lei Jiang Jianhua Liu Xu Li Xiaoqing |
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| Affiliation: | Department of Physics East China University of Chemical Technology |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | glass forming region Cu~+ion conducting glasses tungstate glass AES A.C. conductivity dielectric response |
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