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硅基异构集成模块金属互连失效分析
引用本文:宋明宣,林罡,刘鹏飞,张洪泽. 硅基异构集成模块金属互连失效分析[J]. 固体电子学研究与进展, 2022, 42(1): 68-72
作者姓名:宋明宣  林罡  刘鹏飞  张洪泽
作者单位:南京电子器件研究所,南京,210008
摘    要:介绍了硅基三维异构集成模块金属互连失效的一种定位方法.通过分析集成模块的金属互连结构,采用介质层剥离、金刚刀裂片、磨削制样等预处理方法,结合聚焦离子束(FIB)、电子能谱(EDAX)等工具,实现了故障点的有效定位.介绍了三维集成模块金属互连失效的一种失效机理.通过对集成模块生产工艺的分析,以及对实验晶圆进行模拟去胶实验...

关 键 词:异构集成  失效分析  双层布线  晶圆键合

Failure Analysis of Metal Interconnection of Silicon-based Heterogeneous Integrated Modules
SONG Mingxuan,LIN Gang,LIU Pengfei,ZHANG Hongze. Failure Analysis of Metal Interconnection of Silicon-based Heterogeneous Integrated Modules[J]. Research & Progress of Solid State Electronics, 2022, 42(1): 68-72
Authors:SONG Mingxuan  LIN Gang  LIU Pengfei  ZHANG Hongze
Abstract:
Keywords:
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