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| 用电子引伸计对光栅测微传感器进行期间核查的探索 | |
| 引用本文： | 房永强,杨军红,郑晓斐,张浩. 用电子引伸计对光栅测微传感器进行期间核查的探索[J]. 计量与测试技术, 2016, 0(10). DOI: 10.15988/j.cnki.1004-6941.2016.10.025 |
| 作者姓名： | 房永强 杨军红 郑晓斐 张浩 |
| 作者单位： | 西部金属材料股份有限公司,陕西 西安,710201 |
| 摘 要： | 文章探讨了使用电子引伸计标定器对光栅测微传感器进行期间核查,期间核查结果与计量部门校准结果基本一致。此方法操作简单,可靠性高,为实验室核查提供了一种便捷可靠的期间核查方法。 |
| 关 键 词： | 光栅测微传感器 电子引伸计标定器 期间核查 |
Electronic Expensometer Exploration During the Verification of Grating sensor |
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