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面向IC装备功能仿真平台的多模式测试方法
引用本文:许霞,冯涓,黄利平,田凌,李春光. 面向IC装备功能仿真平台的多模式测试方法[J]. 计算机测量与控制, 2012, 20(11): 2900-2902
作者姓名:许霞  冯涓  黄利平  田凌  李春光
作者单位:清华大学精密仪器与机械学系,北京,100084
摘    要:为了实现全面对IC装备以及装备功能仿真平台进行功能测试,通过分析装备命令响应特点,提出了包含单指令测试、逻辑指令序列测试以及随机指令序列测试的多模式测试方法;单指令测试验证设备以及由相关设备组成的系统的单指令响应正确性;逻辑指令序列从控制系统角度验证设备或系统的连续动态运行性能;随机指令序列测试验证设备或系统的动态随机响应性能;实际应用表明,提出的测试方法可以满足IC装备功能仿真平台的测试需求。

关 键 词:功能测试  多模式测试  IC装备  逻辑指令序列

Multi-mode Test Method for IC Equipment Functional Simulation Platform
Xu Xia , Feng Juan , Huang Liping , Tian Ling , Li Chunguang. Multi-mode Test Method for IC Equipment Functional Simulation Platform[J]. Computer Measurement & Control, 2012, 20(11): 2900-2902
Authors:Xu Xia    Feng Juan    Huang Liping    Tian Ling    Li Chunguang
Affiliation:(Department of Precision Instruments and Mechanology,Tsinghua University,Beijing 100084,China)
Abstract:
Keywords:
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