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基于光纤F-P透射光波长的微位移测量系统
引用本文:魏仁选,姜德生. 基于光纤F-P透射光波长的微位移测量系统[J]. 机械制造, 2003, 41(10): 52-53
作者姓名:魏仁选  姜德生
作者单位:武汉理工大学光纤传感技术研究中心,430070
摘    要:为了克服光强型F-P传感器测量结果受光源波动影响等缺点,设计了一种利用F-P干涉透射光谱中心波长与其干涉腔长之间的关系测量微位移的传感系统,由此可直接测量绝对位移。

关 键 词:微位移测量系统 干涉仪 光源波动 传感器 FFP
文章编号:1000-4998(2003)10-0052-02

Micro Displacement Measurement System Based on Transmitting Wavelength of Fiber F - P Interferometer
Abstract:
Keywords:
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