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| (三)测电容值不能准确判断晶振的好坏 | |
| 引用本文： | 何振杏.(三)测电容值不能准确判断晶振的好坏[J].家电检修技术,2000(11). |
| 作者姓名： | 何振杏 |
| 摘 要： | 晶体振荡器的常见故障是开路(为接触不良、晶体损坏等)和频偏。有些维修人员用测晶振电容值来判断其好坏,虽然该法可判别晶振的开路故障,但对频偏故障却无能为力,容易造成误判。其理由如下: 从结构上看,静态下的晶振相当一个平板电容器,设其等效电容为C_0,它的大小与晶片的材质、几何尺寸及电极面积有关,对某一晶振成品而言,可认为C_0为定值。当晶振工作时,动态参数将发生变化,其振动惯性可等效为一个电感L,晶片的弹性可等效为一个电容C,且C还小于C_0,晶片振动摩擦损耗了等效电阻R,上述三个参数串联后与C_0并联,其等效电路为图1 |
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