| 基于J750Ex-HD的32位MCU芯片在线测试技术 |
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| 引用本文： | 余永涛,王小强,余俊杰,陈煜海,罗军. 基于J750Ex-HD的32位MCU芯片在线测试技术[J]. 电子与封装, 2022, 22(3): 35-40. DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0311 |
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| 作者姓名： | 余永涛 王小强 余俊杰 陈煜海 罗军 |
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| 作者单位： | 工业和信息化部电子第五研究所,广州 511300 |
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| 基金项目： | 广东省重点领域研发计划 |
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| 摘 要： |
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| 关 键 词： | 微控制单元 ATE测试系统 功能测试 修调测试 ADC测试 |
On-Line Testing Techniques of 32 bit MCU Chip Based on J750Ex-HD |
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| YU Yongtao,WANG Xiaoqiang,YU Junjie,CHNE Yuhai,LUO Jun. On-Line Testing Techniques of 32 bit MCU Chip Based on J750Ex-HD[J]. Electronics & Packaging, 2022, 22(3): 35-40. DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0311 |
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| Authors: | YU Yongtao WANG Xiaoqiang YU Junjie CHNE Yuhai LUO Jun |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | |
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