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| 基于ATE的USB PD快充协议芯片晶圆测试 | |
| 引用本文： | 唐彩彬. 基于ATE的USB PD快充协议芯片晶圆测试[J]. 电子与封装, 2022, 22(3): 30-34. DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0306 |
| 作者姓名： | 唐彩彬 |
| 作者单位： | 中科芯集成电路有限公司,江苏无锡 214072 |
| 摘 要： | |
| 关 键 词： | ATE Chroma 3380P USB PD 晶圆测试 |
USB PD Fast Charging Protocol Chip Probe Test Based on ATE |
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| TANG Caibin. USB PD Fast Charging Protocol Chip Probe Test Based on ATE[J]. Electronics & Packaging, 2022, 22(3): 30-34. DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0306 | |
| Authors: | TANG Caibin |
| Abstract: | |
| Keywords: | |
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