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FPGA内部资源测试探讨
引用本文:贺云,肖梦燕,唐锐. FPGA内部资源测试探讨[J]. 电子产品可靠性与环境试验, 2022, 40(1): 36-41. DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2022.01.008
作者姓名:贺云  肖梦燕  唐锐
作者单位:工业和信息化部电子第五研究所,广东 广州 511370
摘    要:

关 键 词:可编程逻辑阵列  内部结构  故障类型  测试方法

Discussion on Internal Resource Testing of FPGA
HE Yun,XIAO Mengyan,TANG Rui. Discussion on Internal Resource Testing of FPGA[J]. Electronic Product Reliability and Environmental Testing, 2022, 40(1): 36-41. DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2022.01.008
Authors:HE Yun  XIAO Mengyan  TANG Rui
Abstract:
Keywords:
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