| 等离子体原子发射光谱法测定高纯碲锭中杂质元素的研究 |
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| 引用本文： | 孙伟嬿,陈蓉玉. 等离子体原子发射光谱法测定高纯碲锭中杂质元素的研究[J]. 化学世界, 2005, 46(5): 266-268,280 |
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| 作者姓名： | 孙伟嬿 陈蓉玉 |
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| 作者单位： | 中国科学院硅酸盐研究所综合分析室,上海,200050;中国科学院硅酸盐研究所综合分析室,上海,200050 |
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| 摘 要： | 报道了ICP-AES法测定高纯碲锭(Te-1)中杂质的方法。试样用王水溶解后，不分离基体直接进行ICP-AES测定。所选分析线经共存元素在分析线附近波长扫描。检验是否受到光谱干扰。发现了在经典谱线表中未栽明的Te182．2nm线翼对Pb182．203nm的干扰。除硫外，方法测定限(以15σ计)、精密度、回收率满足高纯碲锭的分析要求。
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| 关 键 词： | ICP-AES 碲锭 杂质元素 |
| 文章编号： | 0367-6358(2005)05-266-03 |
ICP-AES Method for the Determination of Impurities in High Purity Tellurium |
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| SUN Wei-yan,CHEN Rong-yu. ICP-AES Method for the Determination of Impurities in High Purity Tellurium[J]. Chemical World, 2005, 46(5): 266-268,280 |
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| Authors: | SUN Wei-yan CHEN Rong-yu |
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| Keywords: | ICP-AES Te impurity |
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