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77K下电流增益为2.6万的SiGe/Si HBT
引用本文:邹德恕,陈建新,徐晨,魏欢,史辰,杜金玉,高国,邓军,沈光地. 77K下电流增益为2.6万的SiGe/Si HBT[J]. 半导体技术, 2001, 26(3): 51-52,55
作者姓名:邹德恕  陈建新  徐晨  魏欢  史辰  杜金玉  高国  邓军  沈光地
作者单位:北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京 100022
基金项目:北京市自然科学基金;4962005;
摘    要:通过优化设计SiGe/SiHBT的纵向参数,找到一种低温工艺方法,研制出了在液氮温度下电流增益达到26000的高增益异质结晶体管。

关 键 词:HBT 电流增益 锗化硅 异质结晶体管
文章编号:1003-353X(2001)03-0051-02

SiGe/Si HBT with a current gain of 26000 in the temperature of 77K
ZOU De-shu,CHEN Jian-xin,XU Chen,WEI Huan,SHI Chen,DU Jin-yu,GAO Guo,DENG Jun,SHEN Guang-di. SiGe/Si HBT with a current gain of 26000 in the temperature of 77K[J]. Semiconductor Technology, 2001, 26(3): 51-52,55
Authors:ZOU De-shu  CHEN Jian-xin  XU Chen  WEI Huan  SHI Chen  DU Jin-yu  GAO Guo  DENG Jun  SHEN Guang-di
Abstract:By optimizing the longitudinal,we have designed the SiGe/Si HBT parameter with technologies for low temperature. As a result, the SiGe/Si HBT with a current gain of 26000 in the temperature of liquid nitrogen (77K) is obtained.
Keywords:SiGe/Si HBT  current gain  technologies for low temperature
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