W-Cu触头材料电寿命的研究 |
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引用本文: | 陈文革,张珂,丁秉均. W-Cu触头材料电寿命的研究[J]. 粉末冶金技术, 2003, 21(4): 224-227 |
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作者姓名: | 陈文革 张珂 丁秉均 |
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作者单位: | 1. 西安理工大学材料科学与工程学院,西安,710048;西安交通大学材料科学与工程学院,西安,710049 2. 郑州市市政工程管理处,郑州,450052 3. 西安交通大学材料科学与工程学院,西安,710049 |
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摘 要: | 电器的电寿命主要决定于触头的电磨损。通过对W-Cu系列触头材料电磨损规律的研究,认为触头材料的电磨损随开断次数的变化有老炼、稳定和失效三个阶段,其中对电寿命起决定性因素的是稳定阶段的长短。而且也发现触头材料的电磨损主要是触点在断开和闭合的过程中,产生电弧或其它放电现象的热效应所造成的。材料的比热容、密度、熔点和电导率决定触头的电寿命。
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关 键 词: | W-Cu合金 触头材料 电磨损 电寿命 电器 |
修稿时间: | 2002-04-01 |
A study on electric-lifetime of W-Cu contacts materials |
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Abstract: | |
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Keywords: | W-Cu alloy contact material electrical abrasion electric lifetime |
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