基于GEANT4探讨管激发X荧光测量结构的研究

本文用GEANT4软件分析了X射线管中两种X荧光测量结构的特征。先对X射线管作了模拟,后针对轻基质低重元素含量的样品分析,构建了两种X荧光测量的几何结构模型,得出两种测量结构的散射背景几乎一样,但在被分析元素的特征X荧光数占X射线总数的比值上,竖直入射结构总大于45度入射结构。这些结果可为用X射线管进行实际样品测量提供一定的工作基础。