| 基于IEEE Std 1500标准的SOC可测性设计研究 |
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| 引用本文： | 周银,周浔,陈圣俭,王月芳. 基于IEEE Std 1500标准的SOC可测性设计研究[J]. 计算机测量与控制, 2012, 20(5): 1190-1193 |
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| 作者姓名： | 周银 周浔 陈圣俭 王月芳 |
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| 作者单位： | 1. 装甲兵工程学院控制工程系,北京,100072
2. 装甲兵工程学院信息工程系,北京10072 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目 |
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| 摘 要： | 集成电路深亚微米制造技术和设计技术的迅速发展,使得基于IP核复用的SOC设计技术得到越来越广泛的应用,但由于IP核的来源不同,设计标准的不兼容等因素,使得SOC的测试变得越来越困难;IEEE为解决SOC的测试问题提出了嵌入式芯核测试标准IEEE Std 1500,致力于建立标准化的IP核供应商和用户之间的测试接口,简化核测试信息的复用;文章详细介绍了IEEE Std 1500标准的测试架构,使用方法和核测试描述语言CTL,同时给出标准中提出的SOC可测性设计方法。
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| 关 键 词： | SOC IEEE Std 1500 IP核 边界扫描 测试 |
Research of DFT of SOC based on IEEE Std 1500 |
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| Zhou Yin , Zhou Xun , Chen Shengjian , Wang Yuefang. Research of DFT of SOC based on IEEE Std 1500[J]. Computer Measurement & Control, 2012, 20(5): 1190-1193 |
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| Authors: | Zhou Yin Zhou Xun Chen Shengjian Wang Yuefang |
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| Affiliation: | 1.Department of Control Engineering,Academy of Armored Force Engineering,Beijing 100072,China; 2.Department of Information Engineering,Academy of Armored Force Engineering,Beijing 100072,China) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | SOC IEEE Std 1500 IP core boundary-scan test |
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