| 一种单片机系统RAM的低功耗测试方法 |
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| 引用本文： | 陈卫兵,陈键. 一种单片机系统RAM的低功耗测试方法[J]. 工业控制计算机, 2009, 22(1) |
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| 作者姓名： | 陈卫兵 陈键 |
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| 作者单位： | 阜阳师范学院物理系,安徽,阜阳,236041;安徽电子信息职业技术学院计算机系,安徽,蚌埠,233000 |
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| 摘 要： | 介绍了单片机系统RAM测试的一般方法,并在原有的MARCH-G算法的基础上进行了更深入的研究,提出了一种低功耗的改进方法.
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| 关 键 词： | RAM 故障测试 MARCH-G算法 故障覆盖率 格雷码 |
Low Power Testing Way for RAM of the MCU System |
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| Abstract: | This paper introduces classical testing methods on RAM of the MCU system,and by further research gives a new low power testing way for RAM based on MARCH-G algorithms. |
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| Keywords: | RAM |
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