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微机半导体高频C—V测试仪的研究

作者姓名：	姜万钟李云鹏周立军

作者单位：	沈阳工业大学电子工程系(姜万钟，李云鹏)，沈阳工业大学电子工程系(周立军)

摘要：	文章介绍一种已研制出的小型微机半导体高频C—V测试仪,分析了测试系统和它的工作原理。简要地指出程序设计流程和所用公式。实验证明该仪器有使用方便、迅速、价格低廉等特点。
关键词：	微型计算机半导体器件测试装置电容—电压特性
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