TW系列X射线荧光光谱仪

TW系列X射线荧光光谱仪是天津市技术物理研究所2006年研制开发成功的最新型X射线荧光元素分析仪器。 TW系列X射线荧光光谱仪采用波长色散X荧光分析方法，该方法比传统的能量色散X荧光分析法的精确度要提高1—2个数量级。特别是对于轻元素（硅、镁、铝、硫、磷）提高的更为明显。