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半导体封装工艺面临的挑战
引用本文:王志杰.半导体封装工艺面临的挑战[J].集成电路应用,2008(6):47-48.
作者姓名:王志杰
作者单位:飞思卡尔半导体中国有限公司
摘    要:集成电路元器件密度与性能的不断提高是以集成电路关键尺寸的不断缩小和芯片内信号互连布线不断复杂化,布线层数不断增加为代价的。

关 键 词:半导体封装  工艺面  互连布线  集成电路  电路元器件  关键尺寸  信号
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
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