几种α相Si3N4纳米结构的TEM表征 |
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引用本文: | 张庶元,张华,李公普. 几种α相Si3N4纳米结构的TEM表征[J]. 电子显微学报, 2004, 23(4): 368-368 |
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作者姓名: | 张庶元 张华 李公普 |
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作者单位: | 中国科学技术大学理化中心,安徽,合肥,230026 |
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摘 要: | 作为一种陶瓷材料,氮化硅(Si3N4)具有许多优良的性质,如高强度、高硬度和高红外吸收率,耐磨性、耐高温性和耐腐蚀性等。一维尺度的纳米结构是未来纳米器件的基本组成单元。
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关 键 词: | 陶瓷材料 氮化硅材料 纳米结构 结构表征 透射电子显微镜 晶体机构分析 |
TEM characterization of several α phase Si3N4 nanostructures |
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