| 伪彩色数字高程模型在工业CT断层图像检查中的应用 |
| |
| 引用本文： | 肖永顺,张丽,陈志强,康克军. 伪彩色数字高程模型在工业CT断层图像检查中的应用[J]. 核电子学与探测技术, 2003, 23(2): 147-150 |
| |
| 作者姓名： | 肖永顺 张丽 陈志强 康克军 |
| |
| 作者单位： | 清华大学工程物理系,北京,100084 |
| |
| 摘 要： | 在工业CT断层图像缺陷检测应用中，提出了将数字高程模型DEM与伪彩色技术一起应用于二维灰度图像缺陷检测领域的算法流程。应用该算法流程，能够充分利用CT断层灰度图像信息，获得清晰的视觉检查效果，从而大大增强了系统检测缺陷的能力。在大型工业CT图像重建与检查分系统中采用该算法流程已经取得了较为理想的效果。
|
| 关 键 词： | 数字高程模型 伪彩色 CT断层图像 图像处理 缺陷检测 |
| 文章编号： | 0258-0934(2003)02-0147-04 |
| 修稿时间： | 2002-01-17 |
Pseudo color DEM in industrial CT section image inspection |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | DEM pseudo color CT section image image process defects detection |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
|
