| 第五讲 评片技术(Ⅱ) |
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| 引用本文： | 郑世才. 第五讲 评片技术(Ⅱ)[J]. 无损检测, 2000, 22(5): 229-236 |
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| 作者姓名： | 郑世才 |
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| 作者单位： | 新立机器厂,北京,100039 |
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| 摘 要： | 1 缺陷识别概述正确地识别射线照片上的影象 ,判断影象所代表的缺陷性质的基础是 :(1 )具有一定的材料和工艺方面的知识 ,掌握缺陷的可能形式和发生规律。(2 )识别影象和判断缺陷性质的丰富经验。(3)必须了解射线照相过程 ,特别是透照的具体布置 ,以分析影象的形成和变化特点。总之 ,对工件的材料、工艺知识掌握得越多 ,对工件射线照相过程了解得越清楚 ,具有的经验越丰富 ,就越容易正确地识别射线照片上的缺陷影象。在上述基础上 ,可根据影象的几何形状、黑度分布及位置对射线照片上的影象进行分析和判断。不同性质的缺陷具有不同的几何形…
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| 关 键 词： | 射线检验 缺陷识别 评片技术 铸件 |
| 修稿时间： | 1999-12-16 |
INTERPRETATION OF RADIOGRAPHS(Ⅱ) |
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| Zheng Shicai. INTERPRETATION OF RADIOGRAPHS(Ⅱ)[J]. Nondestructive Testing, 2000, 22(5): 229-236 |
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| Authors: | Zheng Shicai |
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