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国产线性稳压器电离总剂量效应及损伤研究
引用本文:孙江超,张小玲,张彦秀,谢雪松,吕曼,吕长志.国产线性稳压器电离总剂量效应及损伤研究[J].微电子学,2013,43(5).
作者姓名:孙江超  张小玲  张彦秀  谢雪松  吕曼  吕长志
作者单位:1. 北京工业大学,北京,100124
2. 北京燕东微电子有限公司,北京,100015
摘    要:选择国产三端可调正输出稳压器进行60Co-γ电离辐照实验,研究其电离总剂量效应及损伤变化规律.实验结果发现,基准电压、电压调整率、电流调整率、纹波抑制比是敏感参数,在电离辐射环境中发生明显的退化.结合电路结构,分析了敏感参数退化的原因,探讨了基准电压源和误差放大器等内部关键模块对稳压器抗辐照性能的影响.

关 键 词:线性稳压器  总剂量效应  辐射损伤

Study on Ionizing Total Dose Effect of Domestic Linear Regulator and Its Degradation
SUN Jiangchao,ZHANG Xiaoling,ZHANG Yanxiu,XIE Xuesong,L Man,L Changzhi.Study on Ionizing Total Dose Effect of Domestic Linear Regulator and Its Degradation[J].Microelectronics,2013,43(5).
Authors:SUN Jiangchao  ZHANG Xiaoling  ZHANG Yanxiu  XIE Xuesong  L Man  L Changzhi
Affiliation:SUN Jiangchao , ZHANG Xiaoling , ZHANG Yanxiu , XIE Xuesong , L(U) Man , L(U) Changzhi
Abstract:
Keywords:Linear voltage regulator  Total dose effect  Radiation damage
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