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| 数字电路测试中的关键技术分析 | |
| 作者姓名： | 李静 胡方 方晓 |
| 作者单位： | 空军预警学院黄陂士官学校电工与电子技术教研室,武汉430345 |
| 摘 要： | 本文首先就数字电路测试中的关键技术进行了简要介绍，如故障模型、故障仿真、故障压缩以及可测试性度量等；之后介绍了布尔生成法、D算法、FAN算法等三种确定型数字电路测试方法；最后作者提出了自己对数字电路测试发展趋势的展望。 |
| 关 键 词： | 数字电路 测试 故障 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ | |
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