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直流等离子体CVD法在Si(100)衬底上局部定向核化及外延生长金刚石膜
引用本文:王万录,廖克俊.直流等离子体CVD法在Si(100)衬底上局部定向核化及外延生长金刚石膜[J].半导体技术,1992(2):59-60,63.
作者姓名:王万录  廖克俊
作者单位:兰州大学物理系,兰州大学物理系,兰州大学物理系,兰州大学物理系 兰州 730001,兰州 730001,兰州 730001,兰州 730001
摘    要:低压气相法合成的金刚石薄膜和天然金刚石一样,具有优异的力学、光学、电学、化学及热学性质。可广泛应用于机械、电子和光学等工业领域,因而引起了人们极大的兴趣。金刚石还具有半导体性质。并能在多种衬底上利用低压气相合成金刚石膜,还可进行选择性的掺入需要的杂质。这就为制备金刚石半导体器件提供了可能性。实验表明,在金刚石膜生长过程中进行掺杂强烈地依赖于晶体生长方向

关 键 词:金刚石膜  外延生长  等离子体  CVD法
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