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| 电视机可靠性设计讲座 第十一讲 漂移设计(上) | |
| 作者姓名： | 王槐荫 |
| 作者单位： | 上海电视十一厂 |
| 摘 要： | 电子设备的失效率是整机年龄的函数,呈浴盆曲线,已在第二讲中叙述.早期失效是由于工艺不良所致,可采用质量控制方法解决.有用寿命期(即偶然失效期)是由应力和失效的关系来表征,它决定电子系统的固有可靠性.如所加应力是高斯分布,元器件所耐应力的最大强度亦是高斯分布,在设计时如所用元器件的强度和所加应力关系如图1(a),应力超过强度部 |
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