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芯片系统对测试提出新的挑战:芯片系统需要新的测试技术和新的测试开发方
作者姓名:汪庆宝
摘    要:芯片系统是近几年提出的。一种新出现,必然要有新的测试技术跟上。本文就芯片测试问题提出了一些看法。

关 键 词:芯片系统测试 扫描测试 BIST IC
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