从芯片测试和板测试方法综合MCM测试策略 |
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引用本文: | 孟红霞,时万春.从芯片测试和板测试方法综合MCM测试策略[J].国外电子测量技术,1999(2):2-6. |
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作者姓名: | 孟红霞 时万春 |
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摘 要: | 本文综述了功能潮试和BIST等芯片测试实践及其与MCM测试的关联,并分析了上述技术运用于MCM测试的不足。文章还总结了在线测试和边界扫描等板测试策略,并讨论了板测试技术运用于MCM测试的可取之处。文中分类并比较了各种测试策略,介绍了合适的MCM测试设备,随后举例说明了芯片测试、板测试以及混合测试等MCM测试策略。
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关 键 词: | 板测试 芯片测试 自动测试设备 |
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