| 面向FPGA芯片开发的测试方法设计与实现 |
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| 引用本文： | 李艳,陈陵都,陈亮,李明,张倩莉,于芳. 面向FPGA芯片开发的测试方法设计与实现[J]. 微电子学与计算机, 2014, 0(10) |
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| 作者姓名： | 李艳 陈陵都 陈亮 李明 张倩莉 于芳 |
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| 作者单位： | 1. 中国科学院微电子研究所,北京,100029
2. 北京大学软件与微电子学院,江苏无锡,214125 |
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| 基金项目： | 武器装备预研基金资助项目 |
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| 摘 要： | 针对自主研发的SOI-CMOS工艺FPGA芯片VS1000,开发出一种FPGA测试工具(VVK)软件系统.VVK是借助Verilog HDL描述电路和UCF约束电路的特性开发并实现的全自动测试方法.其意义在于解决了设计FPGA芯片过程中面临的最冗繁棘手的验证和测试难题,可以实现FPGA全芯片、内部各种逻辑模块的功能结构的验证和测试.该工具可以用于FPGA流片前的行为级、晶体管级的仿真和验证、FPGA圆片测试、以及FPGA芯片抗辐照测试.验证和测试的结果证明了这套方法的正确性、高效性,同时这种测试方法也适用于其他架构FPGA的测试.
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| 关 键 词： | FPGA芯片验证与测试 测试方法 测试向量 测试覆盖率 |
Design and Implementation of the Testing Method for FPGA Chip Development |
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| LI Yan,CHEN Lin-du,CHEN Liang,LI Ming,ZHANG Qian-li,YU Fang. Design and Implementation of the Testing Method for FPGA Chip Development[J]. Microelectronics & Computer, 2014, 0(10) |
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| Authors: | LI Yan CHEN Lin-du CHEN Liang LI Ming ZHANG Qian-li YU Fang |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | FPGA chip verification and testing testing method testing vector testing coverage |
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