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基于单片机的多功能电路测试平台
引用本文:吴平,刘建,郑喜凤,丁铁夫.基于单片机的多功能电路测试平台[J].电子工程师,2004,30(1):17-19.
作者姓名:吴平  刘建  郑喜凤  丁铁夫
作者单位:1. 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林省长春市,130021;中国科学院研究生院,北京市,100039
2. 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林省长春市,130021
摘    要:介绍了一种基于AT89C51单片机的多功能电路测试平台,给出了测试平台的硬件组成和软件实现方法。该测试平台主要完成对某专用计算器中央控制电路板的电路、器件的在线测试。

关 键 词:单片机  AT89C51  电路测试平台  集成电路测试
修稿时间:2003年7月10日

Multifunctional Circuit Test Platform Based on Chip Microcomputer
Wu Ping ,Liu Jian ,Zhen Xifeng ,Ding Tiefu.Multifunctional Circuit Test Platform Based on Chip Microcomputer[J].Electronic Engineer,2004,30(1):17-19.
Authors:Wu Ping    Liu Jian  Zhen Xifeng  Ding Tiefu
Affiliation:Wu Ping 1,2,Liu Jian 1,Zhen Xifeng 1,Ding Tiefu 1
Abstract:In this paper, an introduction of the multifunctional circuit test platform based on the chip microcomputer AT89C51 is given. The hardware constitution and software realization of this test platform are given. This test platform can accomplish the on line test to the circuits and components of some kind of special calculator central control circuit board.
Keywords:chip microcomputer  AT89C51  IC test  
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