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| 0.70～2.48 MeV质子在F和Mg上160°背散射截面测量 | |
| 引用本文： | 孙旭芳,王荣,刘运宏,王广甫.0.70～2.48 MeV质子在F和Mg上160°背散射截面测量[J].原子能科学技术,2008,42(10). |
| 作者姓名： | 孙旭芳 王荣 刘运宏 王广甫 |
| 作者单位： | [1]北京师范大学低能核物理研究所射线束技术与材料改性教育部重点实验室,100875北京 [2]北京市辐射中心,北京100875 |
| 摘 要： | 应用北京师范大学2×1.7MV串列静电加速器提供的质子束,采用相对测量方法测量了0.70～2.48MeV宽能区质子在轻核F和Mg上160°（实验室坐标系）背散射截面。测量得到F、Mg各自对应能区的质子共振背散射截面数据,为含F、Mg轻元素的新型薄膜材料的高灵敏分析提供了实验数据。 |
| 关 键 词： | 质子 F Mg 背散射截面 |
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