涤纶片基中晶点的研究 |
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作者姓名: | 杨始堃 陈玉君 林少琨 潘鉴元 |
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作者单位: | 中山大学高分子研究所,中山大学高分子研究所,中山大学高分子研究所,中山大学高分子研究所 |
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摘 要: | 涤纶薄膜用作电影胶片片基、录音和录象磁带时,由于晶点影响涂布的均匀性、透光性等,使胶片质量下降。几年来,我们进行了有关涤纶片基晶点的研究,探索其形成原因及消除的一些方法,现报告如下。实验及结果一、晶点形态结构的观察把样品置于正交偏振片之间,使任一拉伸方向与偏振片的一个偏振方向平行,便可
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