逻辑分析仪的高速数据测试

高性能数字总线设计的发展要求将高档逻辑分析仪的同步数据采集速度发挥至其极限。为了在此极端速度下准确的捕捉状态数据,今天的数字设计师必须理解由高性能总线设计提出的一些复杂课题。最关键的课题是被测器件(DUT)与逻辑分析仪的建立/保持时间之间的关系,以及逻辑分析仪的取样位置。以下探讨用逻辑分析仪对高性能总线进行取样中存在的困难,以及解决这些困难的若干对策。