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用Sol─Gel法制备PZT铁电陶瓷及薄膜
引用本文:阎培渝,苏涛,李龙土,张孝文. 用Sol─Gel法制备PZT铁电陶瓷及薄膜[J]. 功能材料, 1995, 0(2)
作者姓名:阎培渝  苏涛  李龙土  张孝文
作者单位:清华大学材料科学与工程系
摘    要:用Sol-Gel法制备了Pb(Zr_(0.5)Ti_(0.5))O_3(PZT)铁电陶瓷与薄膜,观察了它们的结晶情况并测定了它们的电学性能。利用Sol-Gel法,可降低PZT陶瓷粉料的预烧温度约200℃,所得陶瓷致密,晶粒均匀;具有较好的介电性能。PZT陶瓷显示弥散相变特征。PZT薄膜的晶化受基底影响很大。基底晶格越完整,与PZT薄膜的晶格失配率越小,PZT薄膜的晶化就越好。采用PbTiO_3过渡层促进PZT薄膜在镀铂硅片上晶化。PbTiO_3过渡层与PZT薄膜构成串联电路。其表现电学性能与相应的PZT体材料相近。

关 键 词:Sol-Gel法,PZT,陶瓷,薄膜

Preparation and Characterization of Sol-Gel Derived PZT Bulk Ceramics and Thin Films
Yan Peiyu,SuTao,Li Longtu,Zhang Xiaowen. Preparation and Characterization of Sol-Gel Derived PZT Bulk Ceramics and Thin Films[J]. Journal of Functional Materials, 1995, 0(2)
Authors:Yan Peiyu  SuTao  Li Longtu  Zhang Xiaowen
Abstract:
Keywords:Sol-Gel processing  PZT  ceramic  thin film
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