| 晶粒长大的Monte Carlo模拟方法——递归统计法测定晶粒度 |
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| 作者姓名： | 魏承炀 高英俊 张丽娜 |
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| 作者单位： | 广西大学,物理科学与工程技术学院,南宁,530004 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金 , 广西科学基金 |
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| 摘 要： | 应用Monte Carlo（MC）法模拟在周期性边界条件下的晶粒长大行为。利用MC法模拟时,晶界处格点的迁移引起晶粒的长大,根据这一主要特征提出一种精确快速的测定晶粒度的新方法—递归统计法,然后采用递归统计方法测量晶粒度。结果表明,递归统计法测得的晶粒度比截点法的更精确,而且测量精确度不受模型的格点类型以及晶粒的尺寸、形状等的影响,测量速度比其他统计方法要快。
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| 关 键 词： | 递归统计 晶粒度 Monte Carlo方法 晶粒长大 晶粒长大行为 Carlo Monte 模拟方法 递归 统计法 测定 晶粒度 grain growth simulation grain size method of statistics 速度比 影响 形状 尺寸 点类型 模型 测量精确度 |
| 文章编号： | 1004-0609（2008）01-0132-06 |
| 收稿时间： | 2007-06-28 |
| 修稿时间： | 2007-11-20 |
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