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无机EL显示器件用高性能介电层的研究
引用本文:肖田,林明通,徐毅,陈晨曦,陈国荣,杨云霞.无机EL显示器件用高性能介电层的研究[J].功能材料与器件学报,2006,12(2):99-102.
作者姓名:肖田  林明通  徐毅  陈晨曦  陈国荣  杨云霞
作者单位:华东理工大学材料科学与工程学院,上海200237;上海广电电子股份有限公司,上海200081;华东理工大学材料科学与工程学院,上海200237;上海广电电子股份有限公司,上海200081
摘    要:用rf和反应磁控溅射法成功制备了一种总厚度为530~730nm的SrTiO3/Ta2O5复合介电层,获得在500Hz下介电常数为48~73,反映介电损耗的参数ΔVy在0.06~0.15V之间,击穿场强为106~139MV/m,在0.05V/nm的电场下正、反向漏电流在10-9~10-7A/cm2之间,品质因子(εrεoEb)大于5μc/cm2.同时比较了SrTiO3/Ta2O5复合介电层和SrTiO3和Ta2O5单层薄膜的介电性能.把复合膜应用于以ZnS:Mn和Zn2Si0.5Ge0.5O4:Mn为发光材料的器件中,获得了适当的阈值电压和较高的亮度.

关 键 词:无机EL  SrTiO3薄膜  Ta2O5薄膜  SrTiO3/Ta2O5复合膜
文章编号:1007-4252(2006)02-0099-04
收稿时间:2005-05-31
修稿时间:2005-05-312005-07-05

High performance dielectric layer for inorganic thin film electroluminescent devices
XIAO Tian,LIN Ming-tong,Xu Yi,CHEN Chen-xi,CHEN Guo-rong,YANG Yun-xia.High performance dielectric layer for inorganic thin film electroluminescent devices[J].Journal of Functional Materials and Devices,2006,12(2):99-102.
Authors:XIAO Tian  LIN Ming-tong  Xu Yi  CHEN Chen-xi  CHEN Guo-rong  YANG Yun-xia
Affiliation:1. School of Materials Science and Engineering, East China University of Science and Technology, Shanghai 200237, China; 2. SVA Electron Co. Ltd. , Shanghai 200081, China
Abstract:
Keywords:inorganic EL  SrTiO3 thin film  Ta2O5 thin film  SrTiO3/Ta2O5 stacked layer
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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