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组合电路的主值、主值故障及其测试生成
引用本文:郑光华.组合电路的主值、主值故障及其测试生成[J].哈尔滨工程大学学报,1990(3).
作者姓名:郑光华
作者单位:哈尔滨船舶工程学院计算机与信息科学系
摘    要:对组合电路连线上的信号值提出用主值Z和辅值F表示,并提出用主值故障和辅值故障表示组合电路中的固定型故障模型.文中阐述了对主值故障进行测试生成的原理方法.该方法使各类基本门电路具有统一形式的功能描述,适用于由多种类型基本门电路构成的组合电路.

关 键 词:组合电路  真值表  测试生成

Main Value, Main Value Faults and Test Generation for Main Value Faults in Combination Circuits
Zheng Guanghua.Main Value, Main Value Faults and Test Generation for Main Value Faults in Combination Circuits[J].Journal of Harbin Engineering University,1990(3).
Authors:Zheng Guanghua
Affiliation:Dept. of Computer and Information Science
Abstract:
Keywords:combination circuits  truth table  test generation
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