| 采用CCD的非接触测量中提高精度的一种方法 |
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| 引用本文： | 李佳列,丁国清,颜国正,朱洪海. 采用CCD的非接触测量中提高精度的一种方法[J]. 光学精密工程, 2002, 10(3): 281-284 |
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| 作者姓名： | 李佳列 丁国清 颜国正 朱洪海 |
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| 作者单位： | 上海交通大学,信息检测技术及仪器系,上海,200030 |
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| 摘 要： | 利用CCD传感器对工件进行测量是非接触测量领域的常用方法,但受到CCD像元特征尺寸的限制,测量精度往往只能达到微米级,限制了该系统在非接触测量方面的更广泛应用.本文从算法角度提出了一种提高CCD精度的方法.实验证明,方法能将测量的精度提高一个数量级.
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| 关 键 词： | 电荷耦合器件 尺寸测量 边缘检测 梯度 |
| 文章编号： | 1004-924X(2002)03-0281-04 |
| 收稿时间： | 2001-05-23 |
| 修稿时间： | 2001-05-23 |
Method for improving precision in noncontact measurement by linear CCD |
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| LI Jia_lie,DING Guo_qing,YAN Guo_zheng,ZHU Hong_hai. Method for improving precision in noncontact measurement by linear CCD[J]. Optics and Precision Engineering, 2002, 10(3): 281-284 |
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| Authors: | LI Jia_lie DING Guo_qing YAN Guo_zheng ZHU Hong_hai |
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| Affiliation: | Department of Information Detection Technology and Instrument, Shanghai Jiaotong University, Shanghai, 200030, China |
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| Abstract: | To measure work pieces by CCD sensor is a common way in the noncontact measurement field,but the precision can only reach μm because of the size of CCD cells,which restricts the wide use of this kind of measurement system.This paper gives a method to improve CCD precision by arithmetic aspect. The experiment demonstrates that this method can improve the measurement precision by one order of magnitude. |
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| Keywords: | charge coupled devices dimension measurement edge detection grads |
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