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用锂沉淀法测定探测器级单晶锗中氧含量
作者姓名:李贺成  宋祥芳
作者单位:冶金工业部有色金属研究院401室(李贺成),冶金工业部有色金属研究院401室(宋祥芳)
摘    要:Ge(Li)-γ射线探测器具有很高的能量分辨率,它对锗材料的质量要求较严,其中氧含量就是一个重要参数。一方面氧与锂形成相对不可动的LiO~ 络合物,大大降低锂的漂移率;另一方面,如果含氧Ge中同时存在足够量的Si,则Si与氧形成SiO_2颗粒。此颗粒用化学腐蚀可显示出平底坑,属空穴

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