基于LabVIEW和FPGA的数字电路板比对测试系统设计 |
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引用本文: | 王菊,王和明.基于LabVIEW和FPGA的数字电路板比对测试系统设计[J].火炮发射与控制学报,2014(2). |
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作者姓名: | 王菊 王和明 |
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作者单位: | 空军工程大学防空反导学院; |
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摘 要: | 设计了一种基于LabVIEW和FPGA的数字电路板比对测试系统,该系统利用FPGA产生激励信号并对被测信号进行高速采样及缓存,同时借助于上位机的LabVIEW软件完成对整个系统的控制和被测信号的比对分析。实际应用表明,该系统具有运行稳定可靠、操作方便等特点,为数字电路的故障排除提供了依据。
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关 键 词: | 数字电路板 比对测试 LabVIEW FPGA |
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