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基于LabVIEW和FPGA的数字电路板比对测试系统设计
引用本文:王菊,王和明.基于LabVIEW和FPGA的数字电路板比对测试系统设计[J].火炮发射与控制学报,2014(2).
作者姓名:王菊  王和明
作者单位:空军工程大学防空反导学院;
摘    要:设计了一种基于LabVIEW和FPGA的数字电路板比对测试系统,该系统利用FPGA产生激励信号并对被测信号进行高速采样及缓存,同时借助于上位机的LabVIEW软件完成对整个系统的控制和被测信号的比对分析。实际应用表明,该系统具有运行稳定可靠、操作方便等特点,为数字电路的故障排除提供了依据。

关 键 词:数字电路板  比对测试  LabVIEW  FPGA
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