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掺钨VO2薄膜制备及其热致相变特性研究
引用本文:颜家振,张月,刘阳思,张玉波,黄婉霞,涂铭旌. 掺钨VO2薄膜制备及其热致相变特性研究[J]. 稀有金属材料与工程, 2008, 37(9)
作者姓名:颜家振  张月  刘阳思  张玉波  黄婉霞  涂铭旌
作者单位:四川大学,四川,成都,610064
摘    要:采用无机溶胶.凝胶法,以钨酸氨和V2O3的为原料在高温下共熔水淬实现钨掺杂,在云母片(001)表面制备W 掺杂VO2薄膜.采用AFM、XS、XPD分析了薄膜形貌和微观结构,利用FTIR检测薄膜在不同温度下的红外透过率,确定W掺杂薄膜的相变温度.结果表明,钨元素以W6 形式掺入VO2晶体,取代晶格中部分V原子.掺杂后VO2薄膜的半导体一金属相变温度明显下降,每掺入1%W6 ,VO2薄膜相变温度下降19.8℃.当掺入W6 量为2.04%,其相变温度下降到28℃.

关 键 词:钨掺杂  相变温度  VO2薄膜  光学性质

Preparation of W Doped VO2 Films and Study on Its Thermochromic Properties
Yan Jiazhen,Zhang Yue,Liu Yangsi,Zhang Yubo,Huang Wanxia,Tu Mingjin. Preparation of W Doped VO2 Films and Study on Its Thermochromic Properties[J]. Rare Metal Materials and Engineering, 2008, 37(9)
Authors:Yan Jiazhen  Zhang Yue  Liu Yangsi  Zhang Yubo  Huang Wanxia  Tu Mingjin
Abstract:
Keywords:
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