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| 金属／绝缘体／金属（Al／Al2O3／Au）隧道结的发光衰减机制 | |
| 作者姓名： | 王茂祥 吴宗汉 |
| 摘 要： | 结合Ａｌ／Ａｏ２Ｏ３／Ａｕ结构的ＭＩＭ（ｍｅｔａｌ／ｉｎｓｕｌａｔｏｒ／ｍｅｔａｌ）隧道结Ｉ－Ｕ－特性、深度Ａｕｇｅｒ谱及结发光后结面透明度的测试与观察，对共发光衰减机制进行了研究。结果表明，由于ＭＩＭ结工作时，通过隧道电流等产生的大量焦耳上起底电极Ａｌ膜不断氧化，中间栅ＡＩ２Ｏ３的厚度不断增加，从而使得隧穿电子激发表面等离极化激元（ｓｕｒｆａｃｅ ｐｌａｓｍｏｎ ｐｏｌａｒｉｔｏｎ，ＳＰＰ）的强 |
| 关 键 词： | MIM隧道结 发光 表面等离极化激元 衰减机制 |
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