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IGBT极限电流与通态极限功耗的研究
引用本文:李山,张立.IGBT极限电流与通态极限功耗的研究[J].中国电机工程学报,1999,19(6):47-51.
作者姓名:李山  张立
作者单位:天津大学电气自动化与能源工程学院,300072,天津
摘    要:重点对绝缘门双极体管(IGBT)的极限电流与极限功耗进行了研究。在IGBT输出特性上,过电流状态下,因其功耗过大引起民温度升高导致热击穿以及在过电流埋由于IGBT导通时间延长引起民的热击穿都可可造成IGBT损坏。文章从器件模型理论出发,阐述了IGBT损坏前的两有限参数。过电流捍极限能耗参数Kdmax=∫maxiA(t)uce(t)dt及过电流时在输出特性上通态功耗极限参数PM》

关 键 词:IGBT  极限电流  极限功耗  双极性晶体管
修稿时间:1997-11-24

RESEARCH ON IGBT LIMITING CURRENT AND ON-STATE LIMITING POWER LOSS
Li Shan,Zhang Li.RESEARCH ON IGBT LIMITING CURRENT AND ON-STATE LIMITING POWER LOSS[J].Proceedings of the CSEE,1999,19(6):47-51.
Authors:Li Shan  Zhang Li
Abstract:
Keywords:IGBT  limiting current  limiting power loss  nondestructive testing  
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