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责任编辑
分类号
杂志ISSN号
智能集成电路快速测试系统
作者姓名:
何英
作者单位:
军械工程学院管理工程系!石家庄050003
摘 要:
本文介绍了单片机构成的集成电路测试系统的硬件构成和编程技巧。该系统实现了测试时的自动转换量程,自动存储比较数据及显示测试结果等功能,量程范围和测试精度可由编程控制,测试方便。
关 键 词:
集成电路 快速测试 单片机 测试系统
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