首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

智能集成电路快速测试系统
作者姓名:何英
作者单位:军械工程学院管理工程系!石家庄050003
摘    要:本文介绍了单片机构成的集成电路测试系统的硬件构成和编程技巧。该系统实现了测试时的自动转换量程,自动存储比较数据及显示测试结果等功能,量程范围和测试精度可由编程控制,测试方便。

关 键 词:集成电路 快速测试 单片机 测试系统
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号