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采用液晶热记录法定位集成电路的缺陷

引用本文：	吴建忠.采用液晶热记录法定位集成电路的缺陷[J].电子产品可靠性与环境试验,1993(6):57-60.

作者姓名：	吴建忠

摘要：
关键词：	集成电路缺陷液晶定位热记录法
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