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| 2π入射的裂片径迹火花计数技术 | |
| 引用本文： | 康铁笙,翟鹏济.2π入射的裂片径迹火花计数技术[J].核技术,1985(4). |
| 作者姓名： | 康铁笙 翟鹏济 |
| 作者单位： | 中国科学院高能物理研究所 (康铁笙)，中国科学院高能物理研究所(翟鹏济) |
| 摘 要： | 1.实验方法 将厚度为6μm的聚酯膜紧贴于~(252)Cf源上照射,然后在30℃的6.25NNaOH中蚀刻,蒸馏水浸泡,40℃烘干,再置于火花计数器电极之间。先加1000伏电压“清扫”(称为清扫电压),以疏通和扩大膜上蚀成的孔洞状径迹,之后再于较低电压下进行火花计数。 |
| 关 键 词： | 坪曲线 重复率 |
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