| 钛薄膜氢化及热释放特性研究 |
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| 引用本文： | 施立群,周筑颖,赵国庆.钛薄膜氢化及热释放特性研究[J].原子能科学技术,2000,34(4):328-333. |
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| 作者姓名： | 施立群 周筑颖 赵国庆 |
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| 作者单位： | 复旦大学,现代物理研究所,上海,200433 |
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| 摘 要： | 用高能离子非卢瑟福背散射分析和前向反冲分析方法研究了Ｃ、Ｏ污染对Ｔｉ膜的吸放氢能力的影响。实验观测到,１．２６＊１０＾１６ｃｍ＾－２和２．６＊１０＾１６ｃｍ＾－２Ｏ的双重污染可使Ｔｉ膜在３００ｎｍ的范围内存在着低的Ｈ浓度区,使氢的热释放温度大大提高。
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| 关 键 词： | 氢化 热释放 离子束分析 钛薄膜 吸氢 放氢 |
| 修稿时间： | 1999-05-24 |
Hydrogenation And Thermal Release of Hydrogen in Titanium Thin Films |
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| SHI Li-qun,ZHOU Zhu-ying,ZHAO Guo-qing.Hydrogenation And Thermal Release of Hydrogen in Titanium Thin Films[J].Atomic Energy Science and Technology,2000,34(4):328-333. |
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| Authors: | SHI Li-qun ZHOU Zhu-ying ZHAO Guo-qing |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | hydrogenation of Ti thermal release ion beam analysis |
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