| 基于STM32的简易电路测试仪的设计 |
| |
| 引用本文： | 吴坤洋,吴广栋,高鉴. 基于STM32的简易电路测试仪的设计[J]. 微型电脑应用, 2020, 0(4): 75-77,81 |
| |
| 作者姓名： | 吴坤洋 吴广栋 高鉴 |
| |
| 作者单位： | 吉林大学仪电学院 |
| |
| 摘 要： | 以高级语言描述、系统级仿真和综合技术为特征的第三代EDA工具为依托,以实现复杂电路内部故障原因的诊断为目的,提出了基于STM32单片机的简易电路测试仪。测试仪通过AD采集获得计算所需的电压数值,转换为电路参量后判断故障原因。主控板采用STM32F103ZET6,实现整个电路的控制。该测试仪可以对故障电路进行单一故障的诊断。应用了电压跟随器,使电路性能保持稳定。与人工检测相比,该设计具有灵活可控、可靠性高、智能诊断等优点。
|
| 关 键 词： | 测试计量技术及仪器 智能仪器仪表 STM32 故障检测 |
Design of Simple Circuit Tester Based on STM32 |
| |
| WU Kunyang,WU Guangdong,GAO Jian. Design of Simple Circuit Tester Based on STM32[J]. Microcomputer Applications, 2020, 0(4): 75-77,81 |
| |
| Authors: | WU Kunyang WU Guangdong GAO Jian |
| |
| Affiliation: | (College of Instrumentation&Electrical Engineering,Jilin University,Changchun,Jilin 130012,China) |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | testing and measuring techniques and instruments intelligent instrumentation STM32 fault detection |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ |
|
