基于校验矩阵的卷积码盲识别技术研究 |
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作者姓名: | 朱联祥 王思义 |
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作者单位: | 重庆邮电大学信号与信息处理重庆市重点实验室; |
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摘 要: | 首先论证了C(n,n-1,m)卷积码的基本校验矩阵的维数与卷积码编码器存储器阶数之间的关系,通过码字约束关系提出了一种矩阵秩的判别方法。无误码情况下的仿真实验表明:在没有先验知识的情况下,对卷积码的多个参数有良好的识别效果。最后给出了AWGN信道下该识别方法的MATLAB仿真分析,实验结果表明该算法具有良好的容错性能。
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关 键 词: | 卷积码 校验矩阵 盲识别 |
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