| 磁光记录薄膜磁光特性参数测量的外推方法 |
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| 引用本文： | 李震,蔡长波.磁光记录薄膜磁光特性参数测量的外推方法[J].激光与红外,2001,31(2):115-117. |
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| 作者姓名： | 李震 蔡长波 |
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| 作者单位： | 华中科技大学电子科学与技术系, |
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| 摘 要： | 本文采用自制的一种磁光特性测试仪器和Romberg外推算法，对于SONY公司的一种640M直接重写磁光盘，在245－350K温度范围内，获得它完整的磁光温度特性，包括克尔角与温度的关系曲线和矫元力与温度的关系曲线，其结果与理论模型仿真的结果一致。
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| 关 键 词： | 外推算法 磁光特性测量 磁光记录薄膜 |
| 文章编号： | 1001-5078(2001)02-0115-03 |
| 修稿时间： | 2000年8月7日 |
Extrapolation Techniques on Measurement of Kerr Effect for Direct Over write Magneto optical Films |
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| LI Zhen,CAI Chang-bo.Extrapolation Techniques on Measurement of Kerr Effect for Direct Over write Magneto optical Films[J].Laser & Infrared,2001,31(2):115-117. |
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| Authors: | LI Zhen CAI Chang-bo |
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| Abstract: | This paper is based on instrumentation of magneto optical effect detection by our design and Romberg algorithm,and obtains indirectly temperature dependence of Kerr effect in temperature range of 245~350K for 640 M magneto optical disk of SONY corp..The results show that values of extrapolation are an agreement with theoretical model computing. |
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| Keywords: | extrapolation technique interpolation magneto optical film Kerr effect measurement of magneto optical effect |
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